Appareil de mesure des revêtements LEPTOSKOP, Plage de mesure : 0-5000 µm, Version LEPTOSKOP 2042 avec sonde standard Fe

Appareil de mesure des revêtements LEPTOSKOP, Plage de mesure : 0-5000 µm, Version LEPTOSKOP 2042 avec sonde standard Fe

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Appareil de mesure des revêtements LEPTOSKOP Plage de mesure : 0-5000 µm, Version LEPTOSKOP 2042 avec sonde standard Fe - Avec cadre en caoutchouc antidérapant, en couleur - Écran éclairé avec grands chiffres - Établit l'épaisseur de couches non-magnétiques sur le substrat magnétisable (suivant DIN EN ISO 2178) et l'épaisseur de couches non-conductrices sur un matériau de base conducteur, non-magnétique selon le principe du courant de Foucault (suivant DIN EN ISO 2360) avec sondes externes pour des géométries les plus diverses - Capacité de mesure en fonction des sondes - Unités µm, mm, mils, pouces. L'alimentation électrique s'effectue au choix par pile, batterie, USB ou bloc d'alimentation Livraison : dans une mallette en plastique. Appareils avec sonde standard pour métaux ferreux, piles, films d'étalonnage, corps de contrôle, mode d'emploi, certificat de qualité. Appareil avec mémoire de données et autres sondes sur demande. Incertitude de mesure : Epaisseur de couche < 100 µm : 1 % de la valeur de mesure ± 1µm (après étalonnage) Epaisseur de couche > 100 µm : 1...3 % de la valeur de mesure ± 1µm Epaisseur de couche > 1000 µm: 3...5 % de la valeur de mesure ± 10 µm Schichtdicke > 10000 µm: 5 % de la valeur de mesure ± 100 µm

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